半导体环境试验箱详细参数：

测试设备可选择的冲击温度有：A： -40℃～150℃； B：-55℃～150℃；C：-65℃～150℃

高温储存槽温度范围：RT~180℃或RT~200℃

低温储存槽温度范围：RT～-55℃；RT～-65℃；RT～-75℃（根据测试温度而定）

高温储存槽升温时间：RT-200℃约需30分钟

降温时间：

RT～-75℃约需40分钟（根据尺寸大小跟实际测试温度有影响）

冷热冲击测试可设定时间:0.1～999.9小时,循环周期1～9999可设定.

冲击恢复时间：

高温(80℃)冲击30分钟,低温(-40℃)冲击30分钟;冲击恢复时间:5分钟以内.

结构材质：

整台测试设备为进口SUS上等304不锈钢板雾面处理（个别客户有选择钢板烤漆加色处理），内箱均为进口SUS#304不锈钢,配件：测试孔(φ50×1只)，试料架(2组)。

冷冻系统：

复叠水冷式欧美原装进口法国泰康全封闭或德国比泽尔半密闭式压缩机组.此品牌压缩机始终以质量高，耗电低，使用寿命长，运行稳定而立不败之地。

控制器：

爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-900智能可程式温湿度控制器

冷热冲击测试设备必配的安全保护装置：超压、加热干烧无熔丝过载保护器，压缩机过热、过流、、箱内超温警报系统.

半导体环境试验箱：整机质保一年，控制器以及压缩机质保两年。