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AND-001薄膜测厚仪
关键词：薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度计
主要用途及特点：
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数：
测量范围：0-1㎜
分度值：0.001㎜
上测头曲率半径：15～50㎜
测头对试样施加负荷：0.1～0.5N
详情致电 济南艾德诺仪器 15553141286
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