一 、功能与结构特征概述

基本功能：SZT-D型半导体粉末电阻率测试台，是连接四探针测试主机，用来装夹半导体粉末（含高分子粉末和金属粉末等），进行压力施加（压片），并同步进行电阻率测试的装置（以下简称测试台）。是四端子法测试粉末电阻率的必备配套单元。
    基本组成：测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。

配套与兼容：本测试台兼容本公司所有台式四探针测试仪器，电阻率的测试范围则有所配四探针仪器决定。本测试台也可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

优势特征：测试台设计符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准。采用国际通用的电流、电压四端子测量法（仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和样品接触），可以消除电极与连接导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性也好。

压力机构采用手动操作，压力（压强）平稳可调、可保持。电子数码检测、显示压力（压强）值，同步检测样本高度。故本测试台可一边加压一边同步测试电阻率，可方便测绘粉末样品“电阻率-压力”的性能曲线；也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！

本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。
二、主要技术指标：

A“SZT-D型半导体粉末电阻率测试台”参数

1、 试样粒度：推荐40目以下（标准筛网）

2、 试样容器：内径：Φ11.28mm（S=1.0cm²）

高度：0～20mm可调,带高度尺监测，测量误差：±0.02mm。
3、测试压强

标准压强：P₀=4Mpa±0.05Mpa，合压力40kg±0.5 kg(S=1.0cm²)。
   压强量程：20Mpa, P=0～20 Mpa可调，合压力0～200Kg,(S=1.0cm²)
4、压力机构采用手动操作、压力平稳可调/可保持。

电子数码显示压力值！四位有效显示数0～200Kg，分别率±0.1 kg！

5、测试台外形：250mm（前宽）×220 mm（后长）×540mm（总高）
       重      量：10Kg

B  电阻率注测量范围(由配置的四探针测试仪主机确定)，

以配常规ST2258A四探针测试仪为例如右图：
1、测量范围：

电阻率：    10^-4～200X10³Ω-cm
测量误差±（0.3%读数+2字）

2、测量电压量程： 200 mV
     测量精度±（0.3%读数+2字）
  3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。

⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA, 1000mA

⑶误差：±0.5%读数±2 字
4、显示方式3 1/2数量字显示电阻、电阻率, 单位、小数点自动显示。
5、电源：220±10% 50Hz-60Hz,  功率消耗<15W

6、外形尺寸：W×H×L=215mm×85mm×190mm

净   重：≤1.5～2.0kg

 以配ST2254或ST2255超高阻微电流测试仪做配套则上限可到10¹²或10¹⁶，,