基本功能：SZT-A型四探针测试台，是用来装夹四探针探头，连接四探针测试仪器，放置样品，进行手动方式测试的机具。是四探针法测试电阻率/方块电阻（方阻）仪器的配套测量装置（以下简称测试台）。

基本组成：主要有载物台(直径120mm净载物面积)、垂直导向杆、探头高度调节、测试压力调节、探头连接板等单元组成。

配套与兼容：本测试台可选配本公司所有型号的四探针测试探头，包括钨针四探针探头（测试硬质样品用），镀金合金探头（测试柔性薄膜或涂层方阻专用）；本测试台兼容本公司所有四探针测试仪器。本测试台加配本公司探头，可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。

二、可测半导体材料尺寸  （探头手持方式不限）

直        径：  SZT-A测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

  测 量 方 位： 轴向、径向均可

三、使用方法

 3.1 放置样品：调节测试台后上部旋钮，向上升起测试台探头，如图3.1，将样品放在探头下方测试台板上，然后调节测试台后上部旋钮，向下小心压下探头。

3.2压力调整：可根据样品厚度及压力要求，在探头压下，探针接触样品表面的状态下，调节测试台旋钮，观察探头探针压下程度，调节测试压力！如图3.2

对于ST2253-F01钨针探头，探头探针缩进量0～4mm,对应探头压力0～2.0K公斤

对于ST2558B-F01薄膜方阻探头，

探头探针探针缩进量0～4mm,对应探头压力0～400克！

调好后，松开手，压力会自动保持。

3.3测好后，抬起探头，移动样片或移开！

四、联系方式：18914021918/0512-80973697/66050595(传真)  QQ:1064887318 丁先生